四探针法中,方块电阻就是表面电阻率吗?可以采用这种四探针法直接测试薄膜的表面电阻率吗?如果可以,是直接读出的那个数值吗?还是有其他的计算公式呢?公式是什么?

四探针法中,方块电阻就是表面电阻率吗?可以采用这种四探针法直接测试薄膜的表面电阻率吗?如果可以,是直接读出的那个数值吗?还是有其他的计算公式呢?公式是什么? 方块电阻和表面电阻率的区别?在表面电阻率的表示中有的单位用Ω,有的单位用Ω/口,这两者有什么区别吗? 四探针法测量半导体电阻率和薄层电阻的问题?为什麽要用四探针进行测量,如果只用两根探针既作电流探针又作电压探针,是否能够对样品进行较为准确的测量? 谁知道测量电阻率的“四探针法”英文怎么说? 可以采用四探针法测试出薄膜的电阻率,然后根据电阻率计算电导率吗?可以采用四探针法测试出薄膜的电阻率,然后根据电阻率计算电导率,这样得到的电导率为质子电导率.这种方法可以吗? 方块电阻和电阻率的关系式 已知方块电阻,怎样求电阻率 四探针测试仪能测试晶硅片的电阻吗?就是还没有制成电池片的原片的电阻 用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源 四探针测试仪测硅片电阻率测的是N型面的吗 求方块电阻测试仪的校准方法,应该是可以用直流电阻器校准的,但是不知道如何连线,方块电阻是四探针的 电池片的电阻率用四探针怎么测 硅单晶电阻率测定方法如何提高测试的精确度?为什么需要对厚度进行修正?（四探针法） 直流四探针法测量半导体的电阻率的原理是什么?有什么需要注意的嘛? 四探针可以测铝之类的金属的电阻率吗?是不是铝是导体,不能测呢? 测试半导体材料电阻率和方块电阻主要有哪些方法 方块电阻及电阻率测量误差都有哪些 四探针发测电阻的原理